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反射率測定装置

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を
かつてない低コストで実現
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反射率測定装置

仕様

型番 MSP-100
測定波長 380~1050nm
測定再現性 ±0.2%(380~450nm)
±0.02%(451~950nm)
±0.2%(951~1050nm)
試料側N.A. N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時)
試料の測定範囲 φ50μm(10×対物レンズ使用時)
試料の曲率半径 -1R~-∞、+1R~∞
表示分解能 1nm
測定時間 数秒~十数秒(サンプリング時間により異なる)
外形寸法 (W)230×(H)560×(D)460mm(本体のみ)
使用温度範囲 18~28℃
使用湿度 60%以下(結露なきこと)
定価 4,000,000円

測定結果イメージ

測定結果イメージ1
測定結果イメージ2
測定結果イメージ3
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