反射率測定装置MSP-100｜その他｜株式会社渋谷光学

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現

特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。
（薄板0.2㎜の反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時）
レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ）
低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、
16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現）
色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。
単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。
同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。