ホーム
パソコン版
モバイル版
English
サイトマップ
お問い合わせ
株式会社渋谷光学
会社情報
初めてお取引されるお客様へ
よくあるご質問
カタログ・資料
光学部品
顕微鏡関連
ガラス加工
光学設計・特注品製作
その他の製品
お見積もり
ご注文
お問い合わせ
ホーム
その他の製品
反射率測定装置MSP-100
反射率測定装置MSP-100
お問い合わせ
微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現
定価:
4,400,000円(税抜4,000,000円)
デモのご希望がございましたらお問い合わせください。
カタログのダウンロード
特殊ハーフミラー(特許取得済)の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。
(薄板0.2㎜の反射率測定が可能:×20倍対物レンズ使用時)
レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。(試料面に微小スポット(φ50μm)を結ぶ)
低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。(独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、
16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現)
色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。
単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。
同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。
仕様
型番
MSP-100
測定波長
380~1050nm
測定再現性
±0.2%(380~450nm)
±0.02%(451~950nm)
±0.2%(951~1050nm)
試料側N.A.
N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時)
試料の測定範囲
φ50μm(10×対物レンズ使用時)
試料の曲率半径
-1R~-∞、+1R~∞
表示分解能
1nm
測定時間
数秒~十数秒(サンプリング時間により異なる)
外形寸法
(W)230×(H)560×(D)460mm(本体のみ)
使用温度範囲
18~28℃
使用湿度
60%以下(結露なきこと)
定価
4,000,000円(税別)
測定結果イメージ
お見積もり依頼
ご注文