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株式会社渋谷光学
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SWIRイメージング用に最適化された設計
電子基板検査、監視、短波長赤外分光、偽造防止、工程品質管理等
様々なアプリケーションに使用できるレンズ
波長900~2500nmまで色収差を補正したレンズ
ARコーティングで全波長範囲において透過率が72%以上
Cマウント2/3型カメラにも対応。ディストーションが0.2%以下に抑えた設計
OK002-Monのカタログ
OK007-Lepのカタログ
OK002-Mon:写真1
OK002-Mon:写真2
OK002-Mon:写真3
OK007-Lep:写真1
OK007-Lep:写真2
OK007-Lep:写真3
外形図
OK002-Mon
OK007-Lep
仕様表
型番
OK002-Mon
OK007-Lep
焦点距離
30.8mm
16.0mm
絞り
2.0
2.0
許容最大カメラフォーマット
(Image Circle)
12.8mm
12.8mm
波長範囲
900~2500nm
900~2500nm
テレセントリック
像側テレセン設計
像側テレセン設計
集光点RMS
<14μm
<14μm
色収差補正
あり
あり
透過率(平均)
>72%
>72%
作動距離
500mm~∞
200mm~800mm
外形寸法
(L)45.2mm×diam.36
(L)32.2mm×diam.32
カメラマウント
Cマウント
Cマウント
定価
330,000円(税抜300,000円)
330,000円(税抜300,000円)
参考データ(OK002-Mon)
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